LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪

一、产品简介

        LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

二、适用标准

GB/T 1409-2006 《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法》（等效IEC 60250：1969）

GB/T 1693-2007 《硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》

ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》

三、主要参数

1) 信号源频率覆盖范围10kHz～110MHz；

2) 信号源频率精度3×10-5 ±1个字，6位有效数字；信号频率覆盖比11000：1；采样精度11BIT；

3)Q值测量范围：1～1000自动/手动量程；Q值分辨率0.1，4位有效数字；Q值测量工作误差＜5%；

4)Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

5)电感测量范围：1nH～8.4H，分辨率0.1nH，测量误差＜3%，自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；

6)电容直接测量范围：1pF～2.5uF；                                 

7)主电容调节范围：30～540pF；                                        

8)电容测量准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1% ；分辨率0.1pF；

9)材料测试厚度：0.1mm~10mm；                                        

10)合格指示预置功能范围：5～1000；

11) LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；

12)环境温度：0℃～+40℃；

13)消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

14)S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

数显式微杆

平板电容器：

极片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可选

极片间距可调范围：≥15mm

夹具插头间距：25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

测微杆分辨率：0.001mm

测试极片：材料测量直径Φ50mm/Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

15)电感组LKI-1：

分别由0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。

16)主机尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280

17)重量约：7KG

四、产品特点

 LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率范围达10kHZ-110MHZ，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。LJD-B主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。

介电常数及介质损耗测试仪的电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。LJD-B*的谐振点频率自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。